手机网上购彩

1.像素大小

像素也成为像元，像素尺寸指的是单个像素点的空间尺寸。

像素ω　尺寸越小，调制的就越精细，相邻像素串扰越大。

         像素点示意图                                                         像素点示意图

2.分辨率

纵横方向上可控制的像素点数量，用M*N表示（pixel/mm）。分辨率越大，可调控的像素点数量越多。

3.有效面积

所有像素点面积的总和,等于单个像素的面积(d的平方)乘以横方向上像素点的个数（M）再乘以纵方向上像素点的个数（N）。

像素间距

像素点之间的间隙，非作用区域

4.填充因子

也称为开口率，是最小像素单元的有效面积占该像素单元总面积的百分比。

◆填充因子(A)越大，光利用率越高。

5.适用波长

允许的激光波长范围，对这个波长范围内的光束进行调制，效果会更好。

通过镀介电膜，使特定波段的光被反射，增强光利用率。

波长与液晶盒厚的关系

Φ为相位差（相位调制量），λ为波长，ne(θ)为e光折射率，no为o光折射率，d为光经过的几何长度（液晶盒厚度）。

相位调制量和输入信号一定时，随着波长的增大，液晶〇盒厚增大，透过率和对比度减小、响应时间延长。

6.损伤阈值   

SLM可接受的最大光强阈值，超过此阈值会造成不可逆的损伤或导致功能失效。

         相位漂移受激光平均功率影响              液晶层损坏受峰值功率决定

平均功率（W）=峰值能量或单脉冲能量（J）×重复频率（Hz）

峰值功率（W）=峰值能量或单脉冲能量（J）÷脉冲宽度（s）

提高损伤阈值的方式

•特殊材料（半导体材料、介质材料）

•水冷装置

	平均功率	峰值功率
未制冷	1-5W/cm2	1GW/cm2(fs)  100MW/cm2(ps)
特殊材料制冷	10-50W/cm2	50GW/cm2(fs)
水冷装置	100-200W/cm2

*以实际产品的损伤阈值为准

7.响应时间   

液晶分子完成一次相位调制所需的时间，分上升时间和下降时间；

上升时间：相位调制量从0到2π所需时间；

下降时间：相位调制量从2π到0所需时间。

上升沿时间

，r为液晶的黏度，K为液晶的弯曲弹性常数，d为液晶盒厚度

影响响应时间的因素

▪液晶盒厚度

液晶层越厚，响应时间越长

▪液晶材料

铁电液晶：40us

向列型液晶：1-15ms    30-140ms

8.帧率

单位时间内SLM更换图片的数量。

分辨率不变情况下，帧率越高，传输数据量越多。

SLM加载相位图驱动液晶的过程

影响帧率的◥因素

•数据通道传输协议：

HDMI：31Hz    60Hz

DVI：60Hz

DP：60Hz

VGA：60Hz

PCIe：15kHz

•图像分辨率

•图像位深（8bit、24bit）

9.平整度  

光学有效区域的实际相位波面不是一个理想平面波面，存在高低起伏，相位平整度反映该相位╳面的起伏特性。

影响平整度的因素

•像素点越多，平整度越小

•芯片固定时安装应力导致平整度降低

平整度的改善方法

相位补偿（相位共轭原理）

10.对比度  

给振幅型SLM加载不同信号时，用光功率计测得的最大光强 Imax与最小光强 Imin 的比值。

                         光强度与灰度关系曲线

振幅型SLM，对比度越大，灰度光强曲线线性度越好，调制效果越好。

11.数据位深

记录数字图像颜色的二进制数值位数。

 位深越大，调制精度越高

12.相位调制量

在寻址信号的变化范围内所调制光的最大相位变化。

在不同波长下的HDSLM80R相位调制量

相位调制量测量方法

相位调制量测量光路图

强度、相位与灰度的关系曲线

影响相位调制量的因素

•SLM芯片温度

•入射光波长

•入射▂光角度

相位随入射角变化图

13.相位曲↑线相关线性度  

校准后，SLM对光相位进行调制得到的寻址信号值和相位值关系的相关线性度。

               相位-灰度关系的相关线性度                 不同线性度调制效果々图

                                gamma配置软件界面图

14.相位稳定性  

测量时间精度下的固有驱动电子噪音带来的相位波动误差，波动越小越稳定。

波动率

PMax波动相位的最大值

PNor波动相位的最大值PMax与最小值PMin的均值

影响相位稳定性的因素

•驱动电子噪音

•液晶的电容电导特性

•电压频率

输入电压与液晶两端电压的关系    理论相位值与实际相位测量值    相位波动率与电压频率间的关系

15.光利用率

光经过空间光调制器，在寻址信号下，出射光的平均反射光强与入射光强的百分比。

HDSLM80R在不同波长下的光利用率

影响光利用率的因素

•玻璃面板反射

•液晶盒厚

•填充因子

•反射膜（铝膜：70-80%   其他介质膜：90%以上）

16.衍射效率

将液晶空间光调制器作为闪耀光栅使用时，其一级衍射光的能量占不加光栅时零级光能量的百分比。

HDSLM80R衍射效率测试结果

影响衍射效率的因素

▪ 光利用率

▪ 相位深度

实验测量6pi和2pi相位深度LCoS器件各偏转角度下的衍射效率

高相位深度可以实现SLM衍射效率的ξ提升，尤其是大偏转角度下衍射效率的提升。

小结：

SLM的参数会影响相位调制精度、信息加载速度、信息容量、相位的稳定程度等。